На головну сторінку сайту Спрощенний режим E-бібліотека навчальних матеріалів
Авторизація
Прізвище
Пароль
 

Бази даних


Електронний каталог бібліотеки ЗДМФУ- результати пошуку

Вид пошуку

Зона пошуку
Формат представлення знайдених документів:
повнийінформаційнийкороткий
Відсортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнятипом документа
Пошуковий запит: <.>S=ВАНАДИЯ СОЕДИНЕНИЯ -- VANADIUM COMPOUNDS<.>
Загальна кількість знайдених документів : 2
Показані документи с 1 за 2
1.


   
    Монографии Международного агентства по изучению рака (МАИР) по оценке канцерогенного риска для человека (т. 86-89) [Текст] // Токсикол. вестн. - 2008. - N 1. - С. 41-45.
ДРНТІ

Рубрики: НОВООБРАЗОВАНИЯ--NEOPLASMS
   КАНЦЕРОГЕНЫ--CARCINOGENS

   КОБАЛЬТ--COBALT

   ГАЛЛИЙ--GALLIUM

   ИНДИЙ--INDIUM

   ВАНАДИЯ СОЕДИНЕНИЯ--VANADIUM COMPOUNDS

   ФОРМАЛЬДЕГИД--FORMALDEHYDE


Вільних прим. немає
Знайти схожі

2.


    Тищенко, Е. Н.
    RAPD-анализ клеточной линии сои с перекрестной устойчивостью к оксианионам вольфрама и ванадия [Текст] / Е.Н. Тищенко, С.И. Михальская, Л.Е. Сергеева // Цитология и генетика. - 2009. - Т. 43, N 4. - С. 39-44.
ДРНТІ

Рубрики: СОЯ--SOYBEANS
   ВАНАДИЯ СОЕДИНЕНИЯ--VANADIUM COMPOUNDS

   ВОЛЬФРАМА СОЕДИНЕНИЯ--TUNGSTEN COMPOUNDS

   ГЕНОМ РАСТЕНИЙ--GENOME, PLANT

   ОКРУЖАЮЩАЯ СРЕДА, ЗАГРЯЗНЕНИЕ--ENVIRONMENTAL POLLUTION

Анотація: Исследовали влияние оксианионов ванадия на геном сои (Glycine max L., Merr.) в устойчивой к вольфраму (WR) клеточной линии. WR-линия показывает перекрест- ную устойчивость к оксианионам V5+. Установлено наличие одинаковых по размеру RAPD-ампликонов, дифференциально синтезируемых с ДНК исходного каллуса и WR-линии, которая последовательно культивируется в присутствии летальных доз оксианионов W6+ и V5+. Предположено, что в геноме сои имеются локусы, повышенная нестабильность которых обусловлена действием разных стрессоров.


Дод.точки доступу:
Михальская, С.И.; Сергеева, Л.Е.
Примірників всього: 1
ЧЗ (1)
Свободны: ЧЗ (1)
Знайти схожі

 
Статистика
за 06.07.2024
Кількість запитів 852
Кількість відвідувачів 1
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)